Seminario del ICMA : titulado "Elipsometría de Imagen". Jueves 12 de febrero

El próximo 12 de febrero, tendrá lugar el seminario titulado "Elipsometría de Imagen" impartido por el Doctor Antonio González de la empresa Accurion GmbH. La Elipsometría es un conocido método óptico no destructivo para la determinación del espesor de la película y las propiedades ópticas. Mide el cambio en el estado de polarización de la luz reflejada por la superficie de las películas. La idea de la elipsometría es medir el cambio en la polarización de la luz, reflejada en una interfaz de interés, para obtener el espesor óptico y el índice de refracción de capas que son mucho más delgadas que la longitud de onda de la luz de observación. Elipsometría de imágenes combina elipsometría y microscopía para cuantificar el espesor óptico en la escala microscópica, pero también para aumentar el contraste nanopelícula / sustrato. El desarrollo de elipsometría de imágenes, ha superado la limitación de la Elipsometría que requiere un tamaño de muestra de al menos unos pocos milímetros. Gracias a la resolución espacial mejorada de imágenes potencialmente elipsométricas se ha conseguido expandir la elipsometría en nuevas áreas de microanálisis, microelectrónica, y bio-analíticas. El Instituto de Ciencias de Materiales de Aragón, ICMA (Instituto Mixto CSIC- Universidad de Zaragoza) organiza el seminario que tendrá lugar a las 16:00 horas en el Aula dirección del Edificio Torres Quevedo de la EINA del Campus Río Ebro de la Universidad de Zaragoza. Más información
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